Esquíroz-Olloqui, Y. et al. 2025. Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas. Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A. 13, (Jul. 2025). DOI:https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202511961.