Esquíroz-Olloqui, Y., Pérez-Bailón, J., Celma, S., & Sánchez-Azqueta, C. (2025). Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas. Jornada De Jóvenes Investigadores Del I3A, 13. https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202511961