ESQUÍROZ-OLLOQUI, Yago; PÉREZ-BAILÓN, Jorge; CELMA, Santiago; SÁNCHEZ-AZQUETA, Carlos. Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas. Jornada de Jóvenes Investigadores del I3A, [S. l.], v. 13, 2025. DOI: 10.26754/jji-i3a.202511961. Disponível em: https://despapiro.unizar.es/ojs/index.php/jji3a/article/view/11961. Acesso em: 8 sep. 2025.