Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas
DOI:
https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202511961Abstract
La integración de la electrónica de control en entornos criogénicos con tecnología CMOS es actualmente la solución más prometedora para escalar la cantidad de qubits en procesadores cuánticos. Este estudio evalúa el comportamiento de resistencias de polisilicio frente a ciclos térmicos de temperatura, confirmando su estabilidad hasta 4 K sin degradación apreciable. Los resultados respaldan su uso en sistemas para computación cuántica operando a temperatura criogénica.
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Published
2025-07-28
Issue
Section
Artículos (Tecnologías Industriales)
License
Copyright (c) 2025 Yago Esquíroz-Olloqui, Jorge Pérez-Bailón, Santiago Celma, Carlos Sánchez-Azqueta
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
How to Cite
Esquíroz-Olloqui, Y., Pérez-Bailón, J., Celma, S., & Sánchez-Azqueta, C. (2025). Efecto de Ciclos de Stress Térmico hasta el Régimen Criogénico Profundo en Resistencias CMOS Integradas. Jornada De Jóvenes Investigadores Del I3A, 13. https://doi.org/10.26754/jji-i3a.202511961
